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Rtec-共聚焦三维表面轮廓仪
项 目 简 述参数说明共聚焦三维表面轮廓仪l可快速垂直扫描的旋转盘共焦技术l具有光学形貌上超高的横向分辨率,附有5百万自动分辨率的CCD相机, 空间下样可调至0.05um,是表面特征以及形貌的测量的
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美国Rtec三维轮廓仪
粗糙度,粗糙表面高度抛光后的光洁度以及表面结构测量,如陶瓷、塑料和辊钢。SPIP专业数据分析软件 双模式三维轮廓仪 原子力显微镜探针式轮廓测量能够进行材料在纳米尺度水平的测试。提供扫描范围70
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三维表面轮廓仪
插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。三维表面形貌/轮廓仪主要应用在金属材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各种材料表面的薄膜厚度,台阶高度
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三维表面轮廓仪
3D图像——扫描干涉显微镜的功能 测量系统 测量原理 白光干涉法 z-定位系统 Piezo 物镜调节系统 高度测量范围垂直分辨率 Up to 400 μm〈1 nm 光源 LED 相机模块
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三维表面轮廓仪 SURFIEW 6000
变化的干涉纹样调整操作台真空操作台,选择操作台,Aligner操作台 三维表面轮廓仪利用光的干扰,可迅速,准确,并高检测性的对1nm~10mm高度的模型的表面想象进行纳米单位测量。Master反复性
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三维表面轮廓仪 SURFIEW 2500
变化的干涉纹样调整操作台真空操作台,选择操作台,Aligner操作台 三维表面轮廓仪利用光的干扰,可迅速,准确,并高检测性的对1nm~10mm高度的模型的表面想象进行纳米单位测量。产品介绍
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双模式表面三维轮廓仪
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NanoFocus表面三维形貌光学轮廓仪
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轮廓仪/粗糙度仪
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Rtec-化学机械抛光机-CP
RTEC化学机械抛光机CP-6采用专业的方式研究和表征CMP工艺。 除了抛光晶圆和基板外,测试仪还配有在线表面轮廓仪RTEC化学机械抛光机CP-6采用专业的方式研究和表征CMP工艺。 除了抛光晶圆和
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